Data/hora: 14/05/2024 09:09:09

Biblioteca(s): 	Embrapa Instrumentação.	
Data corrente: 	22/03/2006	
Data da última atualização: 	22/03/2006	
Autoria: 	PATERNO, L. G.; MATTOSO, L. H. C.	
Título: 	Morphological characterization of conductive poly(o-ethoxyaniline) and sulfonated lignin self-assembled films by atomic force microscopy.	
Ano de publicação: 	1999	
Fonte/Imprenta: 	In: INTERNATIONAL CONFERENCE ON SCANNING PROBE MICROSCOPY OF POLYMERS, 1., 1999, Santa Barbara. Abstract book and program... Santa Barbara: University of California, 1999. Não-paginado, ref. P55.	
Idioma: 	Inglês	
Conteúdo: 	In this work, atomic force microscopy (AFM) was employed to investigate the morphology of poly(o-ethoxyaniline)/ sulfonated lignin self-assembled films. Images of films surface were obtained on each deposited layer, by AFM on the tapping mode.	
Palavras-Chave: 	AFM; Imagem; Poly(o-ethoxyaniline); Ultra-thin films.	
Categoria do assunto: 	--	
Registro original: 	Embrapa Instrumentação (CNPDIA)	
Exemplares: 	CNPDIA - (9640-1) - UPC - SP - -- - PROCI-99.00122 -  - 1999.00122 - DIS